TK-100露点仪在半导体芯片生产车间的运用露点仪在半导体芯片的生产工艺中起重要监测作用。半导体芯片的生产是在净化间内进行的。净化间规范往往包括相对湿度（RH）这一项，一年内控制点的范围从35%到65%，精度2%（70℃以下）湿度超标会影响...

数字照度计CANA-0010的运用分析追求“易用性”和“准确性”的精密照度计范围广，从0.0lux到39999lux低于1000lux，显示分辨率为0.1lux（手持时）两种显示保持模式：立即和定时器自动关机功能侧面一键操作，操作简单RS2...

电极抛光设备介绍在电化学催化研究中，工作电极的表面状态会影响测试结果的准确性和重复性。如果工作电极抛光不当，造成电极表面粗糙或者有污染物，必然会导致测试结果出现问题，影响数据质量，甚至导致错误结论。UGS-031D电极抛光机本设备是专门对小...

如何选择合适的LED紫外线探伤灯？LED紫外线探伤简称荧光探伤灯，随着LED的发展，LED荧光探伤灯逐渐的替代了汞灯在无损探伤、荧光捡漏、脱脂检查等等应用。由于LED的灵活性，所以在选择用于检测的荧光探伤灯，建议从以下几个方面考虑：LED荧...

光纤输出LD脉冲光源FOLS-07的特点分析FOLS-07是光纤输出型半导体激光光源，通过外部驱动发射脉冲光。可以由任何脉冲发生器、脉冲模式发生器、数字电路输出、PC输出等驱动。脉冲以1MHz的最大重复率发射。如果没有外部输入，也可以发出直...

近红外分光光度计S-7100产品介绍这是一款紧凑的高性能近红外分光光度计，结合了我们的近红外光谱技术。以1秒/扫描的速度测量1200nm至2500nm波长范围内的反射光谱。可以通过统计分析从测量的光谱中计算和显示成分。即使样品不均匀，样品旋...

用于检查电子板上的残留助焊剂紫外线灯UVArtelS介绍UVArtelS是一种黑光（发射紫外线的光）。人眼几乎看不见黑光，但当物体受到黑光照射时，只有其内部含有的荧光粉才会发光。如果制造现场使用的油含有发光的荧光物质*1，则残留在产品上的油...

一款拥有大量光量的大型HID灯M-Gear介绍“MGear”是一款内置电池、使用HID作为光源的大型手持灯。CleanCheckLight系列中，为了打造极其强大、厚实且直线度强的光轴，消除了涂装、印刷、胶片处理、装配、FPD等广泛工作环境...

ZEUS是工作场所灰尘及样品缺陷的清洁检查灯“ZEUS”是一种清洁检查灯，具有可视化10μm以上的“粗颗粒”所需的强直光，据说这种颗粒是由异物引起的缺陷的最大原因。大多数情况下，“粗颗粒”是人眼无法看到的。因此，我们开发了“ZEUS”，它结...

磁通量检测设备-小型磁通计FMI-2000R介绍在磁体的应用中，磁通量(MagneticFlux)是衡量磁体性能的重要指标，尤其是在电机、音响喇叭等领域。磁通量的概念设在磁感应强度为B的均匀磁场中，有一个面积为S且与磁场方向垂直的平面，磁感...